Técnicas de rayos X: análisis elementales y de estructura cristalina

Martes 16 de febrero de 2016

De 9:30 a 17:00 horas

Presencial
(sede de ATC)

Ofrecer la mejor solución para el trabajo diario en muchos sectores industriales, por ello realizamos un seminario sobre ambas técnicas.
Por un lado veremos cómo la XRF nos permite la identificación del contenido elemental de cualquier tipo de muestras, y por otro lado cómo la XRD de polvo puede ser de gran interés para la caracterización de todo tipo de material con estructura cristalina (metales, minerales, polímeros, catalizadores, plásticos, productos farmacéuticos, recubrimientos de capa fina, cerámicas, semiconductores e incluso fluidos).

1.- Fundamentos y aplicaciones en la Fluorescencia y difracción de rayos X (XRF y XRD).
2.- Preparación de muestras: cómo preparar las muestras correctamente para analizarlas.
3.- Presentación de diversos equipos con las soluciones y aplicaciones que ofrecen para los diversos sectores.
4.- Demostración de difractómetro de rayos X de polvo.

¡Compártelo en tus redes!

Ir arriba
¡Inscríbete!

Rellena el formulario y nos pondremos en contacto contigo